AVX为钽电容器、高压贴片电容开发一种创新的可靠性评估与测试方式

AVX为钽电容器、高压贴片电容开发一种创新的可靠性评估与测试方式

预期取代为高可靠性医疗，军事和航天钽电容器的 Weibull 可靠性评估，AVX 创新的Q测试过程是网上的一篇技术文件详细地描述的

格林维尔， 南卡州（2013年7月12 日） -- 作为被动元器件和连接器方面领先的生产厂家，AVX公司为其高可靠性的钽电容器开发了一种创新的，极其有效的测试过程。所谓的 "Q" 测试过程是本年初在缅因州比迪福德市举行的高可靠性钽部件讨论会引进给军事和航天业界里最有影响力的成员。另外，3月26日在德克萨斯州休斯顿市举行的CARTS国际会议提出的一篇技术文件中详细地描述Q测试过程。Q测试过程受到会议参加者的欢迎，以及有望取代Weibull 可靠性评估为医疗，军事和航天的钽电容器。几十年来，Weibull可靠性评价由MIL标准驱动及表示钽电容器的可靠性。Weibull 近年来由于制造与测试技术的改善效果降低了。

“我们非常感谢所有的会议参加者，并是很高兴分享关于钽电容器的设计，制造和测试的想法，继续发展Q测试的过程以为所有紧要使命的应用保证最好的性能，”AVX的钽产品营销经理 Allen Mayar 介绍说。

AVX全新极其有效的Q测试过程获取了临时专利及现在可用为封装尺寸小的医用级钽电容器。Q测试过程将本年底预定可用于军事及航空航天的产品系列。